BT-1700掃描圖像粒度粒形分析系統
集靜態和動態優點于一身的掃描圖像粒度粒形分析系統

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一、產品簡介

BT-1700系統針對快速、準確和精確操作而進行優化。軟件和硬件組件被選擇用來降低復雜性以及提高數據量。由顯微鏡、數碼相機、電動載物臺、控制器和樣件固定裝置組成的系統,滿足客戶對于光學分辨率、照明和數據量的需求。

BT-1700采用了多種國內外先進的軟硬件技術,包括全自動三維勻速運動系統、自動對焦系統、全景圖像無縫合成技術、超大顆粒提取分析系統等先進技術。

二、性能指標

測試范圍 1-10000 微米 放大倍數 30-1000倍
重復性誤差 ≤1%(國標樣D50偏差) 準確性誤差 ≤1%(國標樣D50偏差)
顆粒識別速度 ≥10000個/分鐘 進口高速CCD 120幀/秒
掃描范圍 直徑為55mm 測量時間 ≤10分鐘
漏檢率 ≤3%(10微米以上顆粒無漏檢) 金屬顆粒識別準確率 >90%
纖維顆粒識別準確率 >90%    

三、適用領域

  • 磨料:如碳化硅、剛玉、金剛石、石榴石等。
  • 電池材料:球形石墨粉等。
  • 金屬粉:如球形鋁粉、鉛錫合金粉、其他霧化金屬粉。
  • 非金屬粉:如玻璃珠、聚苯乙烯等。
  • 針狀粉:如硅灰石等。
  • 其他:如科研、教學等。

 四、突出特點

  • 金屬和纖維顆粒識別技術:如果樣品中有金屬顆粒或纖維顆粒,系統能自動識別出來,并給出含量等量化指標。

  • 自動測試技術:點擊自動測試按鈕,系統將自動尋找原點,自動拍攝、自動合成全景圖像、自動分析每個顆粒、自動顯示結果。

  • 無縫合成全景圖像:精確控制的電動平臺移動掃描拍攝局部圖像,最后將每個局部圖像合成全景圖像,實現無縫連接,并對全景圖像進行粒度、粒形分析,保證了顆粒的代表性。